| Nr. | Nom de partie | Description | Fabricant |
| 1081401 | SCAN18373TSSCX | Verrou transparent avec les sorties 3-STATE | Fairchild Semiconductor |
| 1081402 | SCAN18374T | Bascule de D avec les sorties DE TROIS ÉTATS | National Semiconductor |
| 1081403 | SCAN18374T | D-Type bascule avec les sorties 3-STATE | Fairchild Semiconductor |
| 1081404 | SCAN18374TMDA | Bascule D avec Tri-State Sorties | National Semiconductor |
| 1081405 | SCAN18374TSSC | Bascule de D avec les sorties 3-STATE | Fairchild Semiconductor |
| 1081406 | SCAN18374TSSCX | Bascule de D avec les sorties 3-STATE | Fairchild Semiconductor |
| 1081407 | SCAN18540T | Inverser le conducteur de ligne avec les sorties de trois états | National Semiconductor |
| 1081408 | SCAN18540T | Inverser le conducteur de ligne avec les sorties 3-state | Fairchild Semiconductor |
| 1081409 | SCAN18540TMDA | Inversion Line Driver avec Tri-State Sorties | National Semiconductor |
| 1081410 | SCAN18540TSSC | Inverser le conducteur de ligne avec les sorties 3-state | Fairchild Semiconductor |
| 1081411 | SCAN18540TSSCX | Inverser le conducteur de ligne avec les sorties 3-state | Fairchild Semiconductor |
| 1081412 | SCAN18541T | Non-Inverser le conducteur de ligne avec les sorties de trois états | National Semiconductor |
| 1081413 | SCAN18541T | Non-Inverser le conducteur de ligne avec les sorties 3-state | Fairchild Semiconductor |
| 1081414 | SCAN18541TMDA | Sans inversion Line Driver avec Tri-State Sorties | National Semiconductor |
| 1081415 | SCAN18541TSSC | Non-Inverser le conducteur de ligne avec les sorties 3-state | Fairchild Semiconductor |
| 1081416 | SCAN18541TSSCX | Non-Inverser le conducteur de ligne avec les sorties 3-state | Fairchild Semiconductor |
| 1081417 | SCAN25100 | 2457,6, 1228,8 et 614,4 Mbps CPRI SerDes w / Auto resynchronisation et de précision d'étalonnage de retard Meas | Texas Instruments |
| 1081418 | SCAN50C400 | 1,25/2,5/5,0 Émetteur récepteur De Carte mère De Multi-taux De Quadruple De Gbps | National Semiconductor |
| 1081419 | SCAN50C400AUT | 1,25/2,5/5,0 Émetteur récepteur De Carte mère De Multi-taux De Quadruple De Gbps | National Semiconductor |
| 1081420 | SCAN50V400UT | 3.3 V, 1.25 / 2.5 / 5.0 Gbps quad multi-taux fond de panier émetteur-récepteur | National Semiconductor |
| 1081421 | SCAN90004 | Tampon LVDS 4 canaux / répéteur avec Pre-Emphasis | Texas Instruments |
| 1081422 | SCAN90CP02 | 1,5 Commutateur de croisement de Gbps 2x2 LVDS avec l'Pré-Emphase et l'cIeee 1149,6 | National Semiconductor |
| 1081423 | SCAN90CP02 | 1,5 Gbps 2x2 LVDS commutateur Crosspoint avec Pre-Emphasis et IEEE 1149.6 | Texas Instruments |
| 1081424 | SCAN90CP02EVK | 1,5 Commutateur de croisement de Gbps 2x2 LVDS avec l'Pré-Emphase et l'cIeee 1149,6 | National Semiconductor |
| 1081425 | SCAN90CP02SP | 1,5 Commutateur de croisement de Gbps 2x2 LVDS avec l'Pré-Emphase et l'cIeee 1149,6 | National Semiconductor |
| 1081426 | SCAN90CP02SPX | 1,5 Commutateur de croisement de Gbps 2x2 LVDS avec l'Pré-Emphase et l'cIeee 1149,6 | National Semiconductor |
| 1081427 | SCAN90CP02VY | 1,5 Commutateur de croisement de Gbps 2x2 LVDS avec l'Pré-Emphase et l'cIeee 1149,6 | National Semiconductor |
| 1081428 | SCAN90CP02VYX | 1,5 Commutateur de croisement de Gbps 2x2 LVDS avec l'Pré-Emphase et l'cIeee 1149,6 | National Semiconductor |
| 1081429 | SCAN921023 | 20-66 autobus de bit de mégahertz 10 LVDS Serializer et deserializer avec IEEE 1149,1 (JTAG) et à-vitesse BIST | National Semiconductor |
| 1081430 | SCAN921023 | 20 MHz à 66 MHz 10 bits IEEE 1149.1 sérialiseur Test d'accès | Texas Instruments |
| 1081431 | SCAN921023SLC | 20 MHz-66MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081432 | SCAN921023SLCX | 20 MHz-66MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081433 | SCAN921025 | 30-80 autobus de bit de mégahertz 10 LVDS Serializer et deserializer avec IEEE 1149,1 (JTAG) et à-vitesse BIST | National Semiconductor |
| 1081434 | SCAN921025H | 20MHz à hautes températures - 80MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081435 | SCAN921025H | Haute 20MHz Température - 80MHz 10-Bit IEEE 1149.1 sérialiseur Test d'accès | Texas Instruments |
| 1081436 | SCAN921025HSM | 20MHz à hautes températures - 80MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081437 | SCAN921025HSMX | 20MHz à hautes températures - 80MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081438 | SCAN921025SLC | 30MHz - 80MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081439 | SCAN921025SLCX | 30MHz - 80MHz 10-Bit Serializer avec l'accès d'essai d'cIeee 1149,1 | National Semiconductor |
| 1081440 | SCAN921224 | 20-66 autobus de bit de mégahertz 10 LVDS Serializer et deserializer avec IEEE 1149,1 (JTAG) et à-vitesse BIST | National Semiconductor |
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